Phototek Laboratory株式会社は日本(横浜)と米国(インディアナ州)にてシングルフォトン技術の研究開発を行っております。

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開発拠点Miftek社サイト Miftek社はアメリカ(インディアナ州)の開発拠点です

シングルフォトン分光器(SPS-100)

ダイレクトドライブモノクロメータと組合せ、微弱光をフォトンカウンティングにより定量的分光測定が行えます。測光範囲は紫外から近赤外波長領域、サブフェムトワットからナノワットレンジの光強度を計測可能です。また、サブピコ秒フォトンパルスにより時間的な過渡現象、フォトン統計などのデジタル計測を行うことも可能です。微弱光分光に広くお使いいただけますが、特に各種光学材料や薄膜の自家蛍光、ラマン分光、蛍光スペクトラムとライフタイムなど従来不可視であった物性計測に適しております。最近はフォトンエンタングルメントなど量子的計測分野への興味が高まっております。

SPS-100はWindows PCと電源の準備でお使いいただけます。制御ソフトは英語表示となります。

詳細は資料を御覧ください。

 

シングルフォトン検出システム(PDS-100)

アバランシェ効果により光電子を百万倍以上に増幅するSiPMセンサーを電子冷却素子上にマウント、メタルパッケージ内に封止することにより6桁以上のフォトン計測と高信頼性を実現いたしました。センサーユニットは通常の数10ns幅出力と信号処理によるサブナノ秒パルスの2出力で波形観察ができますが、観察にはGHz帯域オッシロスコープのご利用をお勧めいたします。標準品はピーク感度が青波長となりますが、赤波長で高感度のセンサーもご利用いただけます。この場合フォトンパルス幅は5nsとなります。フォトン信号はカウンターでデジタル信号処理され各種計測が行えます。波長が既知の場合や帯域フィルターで時間計測する場合はPDS-100単体で計測可能です。

 I/Fユニットを備えWindows PCからのUSB接続と制御ソフトインストールによりお使いいただけます。

詳細は資料を御覧ください。

 

LIPS (Laser Induced Photon Spectroscopy)システム LIPS-405

励起能力が高くポリマーなども透過する405nmレーザーによる励起システムで、励起された微弱光をSPS-100またはPDS-100で計測いたします。波長、励起パワー、励起スポットサイズ、集光効率などはニーズに応じたカスタマイズを行います。連続光とともにパルス光による励起も可能です。

レーザー励起分光(LIPS)の特徴は波長、パワー、スポットサイズなどが明確に定義でき、従来のランプに比べ、高い照射密度での減衰などの計測が可能で、光軸方向及び直交方向での検出、偏光子による電場ベクトル分析も行うことができます。

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